cmm平面度测量方法？
1、平晶干涉法：用光学平晶的工作面体现理想平面，直接以干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值。主要用于测量小平面，如量规的工作面和千分尺测头测量面的平面度误差。
平面是由直线组成的，因此直线度测量中直尺法、光学准直法、光学自准直法、重力法等也适用于测量平面度误差。测量平面度时，先测出若干截面的直线度。
再把各测点的量值按平面度公差带定义(见形位公差)利用图解法或计算法进行数据处理即可得出平面度误差。也有利用光波干涉法和平板涂色法测量平面误差的。
2、打表测量法：打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上，以标准平板作为测量基准面，用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。打表测量法按评定基准面分为三点法和对角线法：三点法是用被测实际表面上相距最远的三点所决定的理想平面作为评定基准面。
实测时先将被测实际表面上相距最远的三点调整到与标准平板等高；对角线法实测时先将实际表面上的四个角点按对角线调整到两两等高。然后用测微计进行测量，测微计在整个实际表面上测得的最大变动量即为该实际表面的平面度误差。
平面度的测量方式？
步骤/方式1
打表测量法
打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上,以标准平板 作为测量基准面,用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测 量
步骤/方式2
液平面法:液平面法是用液平面作为测量基准面,液平面由“连通罐”内的液面构成,然后用传感器进行测量
步骤/方式3
平晶干涉法
用光学平晶的工作面体现理想平面,直接以干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值
2.5次元测量平面度的步骤？
先放两块平板在同一水平面上，再通过测量仪器测量平板上特定的点，最后根据测量数据计算平面度值。
1.先放两块平板在同一水平面上，因为只有在同一水平面上，才能够让测量值准确度更高。
2.再通过测量仪器测量平板上特定的点，这个步骤需要利用专业测量仪器来获得准确的数据。
3.最后根据测量数据计算平面度值，根据坐标系中点的坐标及各点坐标差值计算出平面度值，进而得知2.5次元测量平面度的值。
测量平面度分为多个步骤。
因为只有在符合特定步骤的前提下，我们才能准确地得出材料的平面度数值。
1.首先需要确认测量工具的准确性，确保测量的基础准确无误。
2.在材料表面分别进行多组测量，可以得出平均值，避免误差的影响。
3.最后再根据所选取的标准进行判断，判定材料是否符合要求。
4.除此之外还有诸如材料方法、测量仪器等方面的因素需要注意，以保证测量精度和结果可靠性。
二维平面度测量是测量一个工件表面平整度的方法，一般***用投影仪等设备进行测量。其步骤如下：
1. 准备好测量工具：平板、测微计、高度规、投影仪等。
2. 将待测工件放在平板上，调整至水平状态。
3. 调整投影仪，将待测工件的轮廓投影出来。
